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如何解決半導體晶圓片加熱溫度分布不均勻問題?

日期:2024-08-10 10:48 瀏覽:712

晶(jing)(jing)(jing)圓(yuan),也被稱為半導體晶(jing)(jing)(jing)圓(yuan)或(huo)硅晶(jing)(jing)(jing)圓(yuan),是(shi)(shi)在半導體工業中廣泛應(ying)用的基(ji)礎材料之一。晶(jing)(jing)(jing)圓(yuan)加(jia)熱是(shi)(shi)半導體制造過(guo)(guo)程中的一個(ge)關鍵(jian)步驟(zou)(zou),其目的是(shi)(shi)在制備(bei)集成(cheng)電路和其他半導體器件時對晶(jing)(jing)(jing)圓(yuan)進行(xing)必要的熱處理。這個(ge)過(guo)(guo)程中,晶(jing)(jing)(jing)圓(yuan)通常需(xu)要被均勻加(jia)熱到特定(ding)的溫(wen)度,以促使或(huo)優化后續的工藝步驟(zou)(zou)。

半導體硅片(晶圓)加熱.jpg


晶圓片加熱過程中要求晶圓表面的溫度分布盡可能均勻,以確保整個晶圓上的器件性能一致。不均勻的溫度分布可能導致器件性能差異,影響產品的質量。紅外線加熱具有高效、均勻、可控和非接觸的特點,適用于各種晶圓片的加熱需求。因此客戶選用了我們的紅外線輻射加熱器(LONGPRO紅(hong)外線(xian)加(jia)熱(re)數(shu)據庫以(yi)及(ji)光學運(yun)算,優化了熱(re)源(yuan)燈(deng)絲內部發光體結構、反光板結構以(yi)及(ji)陣(zhen)列布(bu)燈(deng),使被加(jia)熱(re)表面接(jie)受均值(zhi)的(de)(de)紅(hong)線(xian)輻射能量(liang),有效降低(di)了溫度不(bu)均帶來的(de)(de)不(bu)良工藝質(zhi)量(liang)問題)。

晶圓加熱.jpg


于是我們根據客戶需(xu)求量身定制了加(jia)熱方案:

1、優(you)化燈絲熱能分布結構: 我們通過改進燈絲(si)的熱(re)能分布結構,實現(xian)了類矩形加熱(re),相較(jiao)于傳統的雙尖(jian)形加熱(re)方式,有效減(jian)少了中間區域的熱(re)聚集,避免了兩(liang)端(duan)溫度不(bu)均勻(yun)的問題。

2、LONGPRO數(shu)據(ju)庫+光(guang)學(xue)運算: 利用LONGPRO數(shu)據庫和光學(xue)運算(suan)(suan),我們精確(que)計算(suan)(suan)出(chu)陣列布燈的距離與高度比例,以確(que)保在晶圓表(biao)面均勻分布的紅外輻射能(neng)量(liang),進一步(bu)提升加熱效果。

3、背面弧形光(guang)學反光(guang)曲(qu)率設計: 我們(men)采用背面弧形光學反光曲率設計,對(dui)輻照(zhao)場(chang)(chang)進行修正,進一步提高了(le)整個加(jia)熱場(chang)(chang)的(de)均(jun)勻性,避(bi)免了(le)不均(jun)勻的(de)輻射熱場(chang)(chang)現象。

4、精(jing)確的溫度控(kong)制系統:我們配備(bei)了先進的電控系統和非接觸式測溫探頭(tou),實(shi)現了閉環控制。這意味著(zhu)我們能夠(gou)實(shi)時監測晶圓表面的溫度,快速響應并調整加熱(re)功率,以減少溫度過(guo)沖或不(bu)足,從(cong)而有效預防可能導致工藝問(wen)題的溫度波動。

方案優勢

紅外線輻照均勻,精度誤差:±5%

晶圓片加熱.jpg

加熱均勻.png


通過這一系(xi)列的定制化優化,我們確保了晶圓在(zai)加熱(re)過程中(zhong)達(da)到所(suo)需的溫度(du),并在(zai)整個加熱(re)周期內保持了高(gao)度(du)的穩定性,從而提高(gao)了加熱(re)效率和工(gong)藝(yi)可控性。